一、參考試塊的用途

　　1.測定儀器和探頭的性能

　　2.在探傷過程中，調(diào)整和控制綜合靈敏度不發(fā)生變化。

　　3.復(fù)查和控制以前使用儀器的標(biāo)準(zhǔn)(工作狀態(tài))。

　　4.區(qū)別材料的性質(zhì)

　　參考試塊是生產(chǎn)和使用儀器時，檢查和控制其質(zhì)量及工作狀態(tài)的重要工具?，F(xiàn)在通用的是I.I.W(或CSK-3)型參考試塊。參考試塊可以測定儀器的靈敏度、分辨力、盲區(qū)、掃描線線性、放大器線性、斜探頭標(biāo)志線、折射角度、方向性、斜探頭在熒光屏上的真零點(即波束離開斜探頭有機玻璃時的零點)等。而靈敏度、盲區(qū)、分辨力取決于儀器及探頭的性能。

　　二、時間基線(掃描線)線性的測定 用直探頭(縱波)測定，發(fā)射波調(diào)整在熒光屏的零點上。例如時間基線為0~100毫米時，將探頭放在試塊的A位置，以25毫米的多次反射波進行校正。微調(diào)掃描速度，使第一次反射波出現(xiàn)在25處，如果掃描線性好，第二、三、四次應(yīng)分別與50、75、100刻度重合。否則多次反射波不成比例的出現(xiàn)在熒光屏上。

　　三、放大器線性的測定，將宇時先鋒超聲波探傷儀探頭放在F位置的有機玻璃塊上探測，有機玻璃的厚度相當(dāng)于50毫米鋼的厚度。測定時，靈敏度的控制由最小開至最大，高穿透力儀器有6~10個反射波，低穿透力的儀器只有2~4個反射波。

　　相對靈敏度測定，將宇時先鋒超聲波探傷儀探頭放在C位置。靈敏度控制最初放在最小位置，移動探頭，直到熒光屏上出現(xiàn)1.5毫米洞反射回的波為止。在給定的靈敏度控制位置下，反射的高度就是相對靈敏度。